Saluran Video China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Obrolan Hubungi kami
Rumah video Daftar Putar Tentang Kami Situs web resmi
Bahasa indonesia
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor

Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
Obrolan
Memperkenalkan PMST, 10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System yang dirancang untuk pengujian yang tepat dari MOSFET, BJT, IGBT, dan SiC GaN semikonduktor,dengan karakteristik tegangan tinggi dan arus tinggi, pengukuran presisi tingkat μΩ, dan kemampuan pengukuran arus tingkat nA, mendukung pengukuran kapasitansi simpang dan konfigurasi modular untuk pengujian fleksibel,Selamat datang untuk mengunjungi situs web kami!
Sistem pengujian semikonduktor
Video terkait
LDBI Multi-Channel Sistem Penuaan Laser Tinggi 00:34
LDBI Multi-Channel Sistem Penuaan Laser Tinggi

LDBI Multi-Channel Sistem Penuaan Laser Tinggi
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS 00:24
Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS

Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal 01:24
PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal

PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal
Video Lainnya
February 17, 2025
300V/4A/30A Unit Pengukuran Sumber Pulsa P300B untuk Semikonduktor dan Bahan 00:24
300V/4A/30A Unit Pengukuran Sumber Pulsa P300B untuk Semikonduktor dan Bahan

300V/4A/30A Unit Pengukuran Sumber Pulsa P300B untuk Semikonduktor dan Bahan
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
300V/3A Uji Semikonduktor Unit Pengukuran Sumber DC S300B 00:24
300V/3A Uji Semikonduktor Unit Pengukuran Sumber DC S300B

300V/3A Uji Semikonduktor Unit Pengukuran Sumber DC S300B
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
300V/1A/10A Pengujian Semikonduktor Operasi Empat Kuadran Meter Sumber Pulsa P300 00:24
300V/1A/10A Pengujian Semikonduktor Operasi Empat Kuadran Meter Sumber Pulsa P300

300V/1A/10A Pengujian Semikonduktor Operasi Empat Kuadran Meter Sumber Pulsa P300
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
30V/1A Semikonduktor Karakteristik Listrik Pengujian Sumber DC Unit Pengukuran S100 00:36
30V/1A Semikonduktor Karakteristik Listrik Pengujian Sumber DC Unit Pengukuran S100

30V/1A Semikonduktor Karakteristik Listrik Pengujian Sumber DC Unit Pengukuran S100
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
Sumber daya tegangan tinggi 1200V/100mA untuk pengujian tegangan kerusakan IGBT 00:24
Sumber daya tegangan tinggi 1200V/100mA untuk pengujian tegangan kerusakan IGBT

Sumber daya tegangan tinggi 1200V/100mA untuk pengujian tegangan kerusakan IGBT
Sumber Daya Tegangan Tinggi
February 25, 2025
1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT

1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT
Satuan Ukuran Sumber
February 25, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik 00:24
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik

300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik
Meter sumber saluran ganda
February 24, 2025