Saluran Video China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Obrolan Hubungi kami
Rumah video Daftar Putar Tentang Kami Situs web resmi
Bahasa indonesia
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

30V/1A Semikonduktor Karakteristik Listrik Pengujian Sumber DC Unit Pengukuran S100

Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
Obrolan
Memperkenalkan S100, 30V / 1A Semiconductor Electrical Characteristics Testing DC Source Measurement Unit, menawarkan presisi tinggi, rentang dinamis yang luas dan desain sentuhan digital inovatif,dengan fitur seperti jaminan pengukuran presisi, semua dalam satu fungsionalitas, resolusi tinggi, operasi empat kuadran, dan antarmuka kaya untuk integrasi yang mudah, sempurna untuk pengujian semikonduktor, penelitian bahan, pengujian komponen elektronik,penelitian dan pendidikan, dan sistem pengujian otomatis, selamat datang untuk mengunjungi situs web kami!
Satuan Ukuran Sumber
Video terkait
2 MS/s Multi-channel Data Acquisition Card A400B Board Kecepatan tinggi 00:27
2 MS/s Multi-channel Data Acquisition Card A400B Board Kecepatan tinggi

2 MS/s Multi-channel Data Acquisition Card A400B Board Kecepatan tinggi
Satuan Ukuran Sumber
February 26, 2025
1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT

1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT
Satuan Ukuran Sumber
February 25, 2025
S300 Unit Pengukuran Sumber DC 300V/1A untuk Uji Karakteristik Listrik 00:24
S300 Unit Pengukuran Sumber DC 300V/1A untuk Uji Karakteristik Listrik

S300 Unit Pengukuran Sumber DC 300V/1A untuk Uji Karakteristik Listrik
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor 00:30
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS 00:24
Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS

Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
300A/30V High Current Pulse Power Supply HCPL030 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
300A/30V High Current Pulse Power Supply HCPL030 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT

300A/30V High Current Pulse Power Supply HCPL030 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT
Pasokan Listrik Listrik Tinggi
February 25, 2025
LDBI Multi-Channel Sistem Penuaan Laser Tinggi 00:34
LDBI Multi-Channel Sistem Penuaan Laser Tinggi

LDBI Multi-Channel Sistem Penuaan Laser Tinggi
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal 01:24
PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal

PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal
Video Lainnya
February 17, 2025
1200V/100A Semikonduktor Parameter Analyzer SPA6100 00:36
1200V/100A Semikonduktor Parameter Analyzer SPA6100

1200V/100A Semikonduktor Parameter Analyzer SPA6100
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik 00:24
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik

300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik
Meter sumber saluran ganda
February 24, 2025