Sistem pengujian semikonduktor penuaan laser LDBI Multi Channel Testing System

LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and agingPerusahaan ini telah mengembangkan sistem pengujian penuaan yang serbaguna, bertenaga tinggi, dan didinginkan dengan air.
Produk ini memiliki karakteristik yang sangat baik dari arus yang tinggi, pulsa sempit, arus konstan, arus stabil, dan kemampuan anti-interferensi yang kuat.Ini juga termasuk sirkuit perlindungan ganda untuk tegangan tinggi, kembali EMF, dan perlindungan lonjakan, memberikan solusi lengkap untuk pengujian penuaan chip laser semikonduktor bertenaga tinggi dan modul laser pompa.

Fitur Produk

▪Satu laci mendukung hingga 16 saluran, maksimal 8 laci: Setiap laci dapat menampung hingga 16 saluran independen, dengan kapasitas total hingga 8 laci.

▪Saluran independen: Semua saluran beroperasi secara independen, memastikan tidak ada gangguan antara tes.

▪Current Readback & Synchronized Measurements: Mengukur tegangan, daya optik, dan parameter lainnya secara otomatis secara bersamaan dengan pembacaan arus.

▪Heating Film & Temperature Control: Menggunakan film pemanas untuk kontrol suhu, dengan kisaran dari suhu kamar hingga 125 °C.

▪Surge-Resistant Power Supply: Dirancang untuk menahan surge daya, memastikan operasi yang stabil.

▪Perangkat Pengumpulan Cahaya Dingin Air: Dilengkapi dengan pendinginan air untuk mengelola panas yang dihasilkan selama operasi.

▪Keakuratan suhu tinggi: Keakuratan suhu absolut ± 1°C, dengan keseragaman suhu ± 2°C di DUT yang berbeda (Perangkat di bawah Uji).

▪Automatic Aging Data Logging & Export: Secara otomatis mencatat data tes penuaan dan mendukung ekspor data untuk analisis.

Parameter Produk

Aplikasi

Pengujian Perangkat Daya Semikonduktor

▪Tepat mengukur parameter statis dari perangkat daya seperti MOSFET, BJT, IGBT, SiC (silikon karbida), dan GaN (gallium nitride), termasuk tegangan pemecahan, kebocoran arus, pada resistensi,tegangan ambang, kapasitas junction, dll.

▪Mendukung persyaratan pengujian tegangan tinggi, arus tinggi, dan presisi tinggi untuk semikonduktor generasi ketiga (misalnya, SiC, GaN).

Penelitian Properti Listrik Bahan Semikonduktor

▪Memberikan pengujian parameter kinerja listrik untuk bahan semikonduktor (misalnya, arus, tegangan, variasi resistensi), mendukung R&D bahan dan validasi proses.

Pengujian komponen elektronik tenaga kendaraan energi baru

▪Berfokus pada pengujian parameter statis perangkat IGBT dan SiC kelas otomotif, memenuhi permintaan pengujian tegangan tinggi dan arus tinggi di bawah arsitektur 800V.Mencakup aplikasi inti seperti inverter utama dan tumpukan pengisian.

Pengujian dan Kontrol Kualitas Jalur Produksi Otomasi Industri

▪Memungkinkan pengujian end-to-end dari laboratorium ke jalur produksi massal, termasuk pengujian parameter statis otomatis untuk wafer, chip, perangkat, dan modul.Kompatibel dengan sistem produksi semi-otomatis (PMST-MP) dan sepenuhnya otomatis (PMST-AP).

Lembaga Akademik & Penelitian Pengajaran & Eksperimen

▪Digunakan untuk eksperimen karakteristik fisik pada sirkuit terintegrasi dan perangkat daya, yang mencakup kursus seperti prinsip perangkat semikonduktor dan elektronik analog.Memfasilitasi pengembangan pusat praktik pengujian chip.