1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT
arus, tepi denyut nadi curam 15μs, dan pengukuran tegangan denyut nadi dua saluran, ideal untuk pengujian dioda Schottky, perangkat IGBT, dan banyak lagi, Selamat datang untuk mengunjungi situs web kami!
Satuan Ukuran Sumber
-
1000A 18V Sumber arus pulsa arus tinggi HCPL100 Sumber daya yang dapat diprogram
Hubungi sekarang -
300A 30V Pulse Power Supply Sumber arus tinggi HCPL030 Untuk SiC IGBT GaN HEMT Test
Hubungi sekarang -
10V 500mA PXI Unit Pengukuran Sumber Sub Card Pulse PXI SMU Unit CBI401
Hubungi sekarang -
Meter Sumber Pulsa P300 300V 1A 10A Unit Pengukuran Sumber Pengujian Semikonduktor
Hubungi sekarang -
30V 4A 30A Pulse Source Measure Unit P100B Sourcemeter Untuk Perangkat Semikonduktor
Hubungi sekarang
Video terkait
2 MS/s Multi-channel Data Acquisition Card A400B Board Kecepatan tinggi
Satuan Ukuran Sumber
February 26, 2025
S300 Unit Pengukuran Sumber DC 300V/1A untuk Uji Karakteristik Listrik
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal
Video Lainnya
February 17, 2025
Sumber daya tegangan tinggi 1200V/100mA untuk pengujian tegangan kerusakan IGBT
Sumber Daya Tegangan Tinggi
February 25, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik
Meter sumber saluran ganda
February 24, 2025
300A/30V High Current Pulse Power Supply HCPL030 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT
Pasokan Listrik Listrik Tinggi
February 25, 2025
