300A/30V High Current Pulse Power Supply HCPL030 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT
arus pulsa, 20V@300A dan pulsa ≤ 500 tegangan beban keluaran, lebar pulsa arus 50μs-1ms, dan waktu kenaikan arus 10μs, ideal untuk pengujian wafer dan pengujian waktu respons sensor arus tinggi,Selamat datang untuk mengunjungi situs web kami!
Pasokan Listrik Listrik Tinggi
-
300A 30V Pulse Power Supply Sumber arus tinggi HCPL030 Untuk SiC IGBT GaN HEMT Test
Hubungi sekarang -
1000A 18V Sumber arus pulsa arus tinggi HCPL100 Sumber daya yang dapat diprogram
Hubungi sekarang -
10V 500mA PXI Unit Pengukuran Sumber Sub Card Pulse PXI SMU Unit CBI401
Hubungi sekarang -
Meter Sumber Pulsa P300 300V 1A 10A Unit Pengukuran Sumber Pengujian Semikonduktor
Hubungi sekarang -
30V 4A 30A Pulse Source Measure Unit P100B Sourcemeter Untuk Perangkat Semikonduktor
Hubungi sekarang
Video terkait
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
2 MS/s Multi-channel Data Acquisition Card A400B Board Kecepatan tinggi
Satuan Ukuran Sumber
February 26, 2025
PRECISE Instrumen. Sumber Eksplorasi Konsistensi Internal dan Eksternal
Video Lainnya
February 17, 2025
1200V/100A Semikonduktor Parameter Analyzer SPA6100
Sistem pengujian semikonduktor
February 26, 2025
30V/1A/10A Pengujian Semikonduktor Operasi Empat Kuadran Meter Sumber Pulsa P100
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
Unit pengukuran sumber pulsa arus tinggi 100V/100A HCP300 untuk IGBT
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B untuk Berbagai Uji Karakteristik Listrik
Meter sumber saluran ganda
February 24, 2025
S300 Unit Pengukuran Sumber DC 300V/1A untuk Uji Karakteristik Listrik
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025