Saluran Video China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Hubungi kami
Rumah video Daftar Putar Situs web

300V/1A Single-channel Sub Card DC Source Unit Pengukuran CS300

Peralatan pengujian multi-saluran
February 24, 2025
Keyword: Peralatan pengujian multi-saluran
Hubungi kami
Tag:
#Unit Smu #pxi SMU #Unit Pengukuran Sumber PXI
Video Description:
Discover the 300V/1A Single-channel Sub Card DC Source Measure Unit CS300, a high-precision modular SMU designed for semiconductor and nanomaterial testing. With 300V/1A output, four-quadrant operation, and seamless host integration, it ensures accuracy in complex test scenarios.
Video terkait
10V/500mA Unit Pengukuran Sumber Pulsa Sub Card Empat Saluran CBI401 00:24

10V/500mA Unit Pengukuran Sumber Pulsa Sub Card Empat Saluran CBI401
Peralatan pengujian multi-saluran
February 24, 2025
Unit Pengukuran Sumber Pulsa 10V/1A Sub Card Empat Saluran CBI402 00:24

Unit Pengukuran Sumber Pulsa 10V/1A Sub Card Empat Saluran CBI402
Peralatan pengujian multi-saluran
February 24, 2025
Unit Pengukuran Sumber Pulsa 18V/1A Sub Card 4 Saluran CBI403 00:28

Unit Pengukuran Sumber Pulsa 18V/1A Sub Card 4 Saluran CBI403
Peralatan pengujian multi-saluran
February 24, 2025
1200V/100A Semikonduktor Parameter Analyzer SPA6100 00:36

1200V/100A Semikonduktor Parameter Analyzer SPA6100
Sistem pengujian semikonduktor
February 25, 2025
Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS 00:24

Sistem pengujian sensor arus 1000A CTMS
Sistem pengujian semikonduktor
February 25, 2025
S300 Unit Pengukuran Sumber DC 300V/1A untuk Uji Karakteristik Listrik 00:24

S300 Unit Pengukuran Sumber DC 300V/1A untuk Uji Karakteristik Listrik
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
Sumber daya tegangan tinggi 1200V/100mA untuk pengujian tegangan kerusakan IGBT 00:24

Sumber daya tegangan tinggi 1200V/100mA untuk pengujian tegangan kerusakan IGBT
Sumber Daya Tegangan Tinggi
February 24, 2025
1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V Daya Listrik Pulsa Arus Tinggi HCPL100 Untuk Uji SiC/IGBT/GaN HEMT
Satuan Ukuran Sumber
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST Untuk MOSFET BJT IGBT Dan SiC GaN Semikonduktor
Sistem pengujian semikonduktor
February 25, 2025
30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B dengan Pengukuran Tegangan/Arus dan Operasi Empat Kuadran 00:24

30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B dengan Pengukuran Tegangan/Arus dan Operasi Empat Kuadran
Meter sumber saluran ganda
February 24, 2025